透射电镜和扫描电镜的区别

扫描电镜和透射电镜的区别

扫描电镜（TEM）和透射电镜(SEM)目前在各种材料结构，组织成分以及化学成分等方面研究上应用十分广泛，地位十分重要，其具体的区别如下：1、电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。2、观察得到的图像不同。透射电镜可以观察样品内部结构，但是一般只能观察切成薄片后的二维图像，许多电子无法透过的较厚样品，只能用扫描电镜才能看到。扫描电镜主要用来直接观察样品表面的立体结构，图像富有立体感，但只能反映出样品的表面形貌，无法显示样品内部的详细结构。3、成像原理不同。扫描电镜的成像原理是由电子枪产生的电子束经过三个磁透镜的作用，形成电子探针，经过透镜聚焦到样品表面上，也就是对样品扫描，然后把从样品表面发射出来的各种电子用探测器收集起来，并转变为电流信号经放大后再送到显像管转变成图像。

扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同？

1、方式不同扫描电镜和电视扫描原理相同的成像方式，透射电镜和光学显微镜或者照相机成像原理相同的成像方式。2、实现不同扫描电镜利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。透射电镜利用扫描透射模式时物镜的强激励，可以实现微区衍射。扩展资料：透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。由于电子的德布罗意波长非常短，透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，可以达到0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍。因此，使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构，比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法，如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。在放大倍数较低的时候，TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候，复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同，因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式，可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。

扫描电镜主要用于观察

扫描电镜主要用于观察纳米材料。所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在一定范围内，在保扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质纳米材料有着广阔的发展前景。扫描电镜方法是利用扫描电镜对样品的结构和性能进行分析的方法。扫描电镜的基本部件有透镜系统、电子枪、电子收集器、观察和记录影像的阴极射线管等。其基本原理是用极细的电子束在样品表面上扫描，然后按电视原理放大成像，显示在电视屏幕上。当电子轰击样品表面时会产生各种信号，其中包括二次电子、背散射电子和不同能量的光子等。这些信号来自样品的特定发射区域，它随表面形貌的不同而变化。从而可以获得样品的成份、表面形貌、晶体结构等信息。扫描电镜的特点之一是，用它检验大块样品时能获得高的分辨率，商品仪器可达50埃，专用仪器可达25埃。特点之二是，利用扫描电镜的大景深可获得样品的三维形态。这对生物学、医学等特别有价值。